Универзитет у Београду

Петар М. Лукић

др Петар М. Лукић, редовни професор
Катедра за физику и електротехнику
Кабинет: 2; 427
Мејл адреса: plukic@mas.bg.ac.rs
Телефон: локал 207, 329; директан 3302-207

Термини за пријем студената

После предавања

Предмети

Биомедицинска инструментација и опрема
Електроника
Електроника
Електроника и биомедицинска мерења
Електротехника
Завршни предмет - Електроника
Завршни предмет - Електроника и биомедицинска мерења
Увод у основе електротехнике

Истраживачка област

Електроника, Микроелектроника, Анализа и моделовање рада микроелектронских полупроводничких направа, Дигитална електроника, Управљање у реалном времену.

Образовање, стручна спрема

Дипломирани инжењер електротехнике (1992.), Стручни испит за дипл. инж. ел. (2002.), Магистар електротехничких наука (1996.), Доктор електротехничких наука (2005.).

Публикације, признања, награде

71 објављен научни рад у престижним међународним и домаћим часописима и конференцијама, 19 радова у међународним научним часописима са SCI листе, 1 патент, 2 пројектована и реализована уређаја - 1 за међународно и 1 за домаће тржиште, 2 техничке иновације, 3 техничка решења; учесник на 4 вишегодишња пројекта; аутор 5 универзитетских уџбеника (аутор 1 из области Електронике; коаутор 4 из области Електротехнике за студенте Машинског факултета).

Чланства у научним и стручним организацијама

Друштво за истраживање материјала YUMRS

Библиографија

Радови у часописима са SCI листе

Alkhem Abdel, Šašić Rajko M., Lukić Petar, Ostojić Stanko M. (2014). 4H-SiC vertical double implanted metal-oxide-semiconductor drift region-energy aspects of its formation and analysis, Physica Scripta, 89(1).
IOP Publishing Ltd, Bristol, ISSN: 0031-8949, 10.1088/0031-8949/89/01/015803, M23.

Alkoash Abed Alkhem, Šašić Rajko M., Ostojić Stanko M., Lukić Petar (2011). An Improvement of Analytical I-V Model for Surrounding-Gate MOSFETs, Journal of Computational and Theoretical Nanoscience, 8(1), 47-50.
Amer Scientific Publishers, Stevenson Ranch, ISSN: 1546-1955, 10.1166/jctn.2011.1657, M23.

Lukić Petar, Šašić Rajko M., Lončar B. B., Žunjić Aleksandar (2011). Analytical model of SiC DIMOSFET's drift region voltage impact on current-voltage characteristics, Optoelectronics and Advanced Materials-Rapid Communications, 5(5-6), 551-554.
Natl Inst Optoelectronics, Bucharest-Magurele, ISSN: 1842-6573, M23.

Šašić Rajko M., Lukić Petar, Ostojić Stanko M., Ramović Rifat M. (2008). Surface carriers' concentration dynamics caused by a small alternating applied voltage, Journal of Optoelectronics and Advanced Materials, 10(12), 3430-3435.
National Institute of Optoelectronics, ISSN: 1454-4164, M23.

Šašić Rajko M., Lukić Petar, Ramović Rifat M., Ostojić Stanko M. (2007). Threshold voltage in MOSFETs and MODFETs as a problem of nonlinear dynamics, Journal of Optoelectronics and Advanced Materials, 9(9), 2703-2708.
National Institute of Optoelectronics, ISSN: 1454-4164, M23.

Радови у часописима ван SCI листе

Lukić Vladan M., Lukić Petar, Šašić Rajko M. (2009). Analitički modeli uticaja temperature na transkonduktansu i izlaznu konduktansu sic mosfet strukture, Tehnika - Novi materijali, 18(1), 15-20.
Savez inženjera i tehničara Srbije, Beograd, ISSN: 0354-2300, M52.

Радови са конференција

Lukić Petar, Ramović Rifat M., Šašić Rajko M. (2005). HEMT carrier mobility analytical model, Materials Science Forum, 494, 43-48.
Trans Tech Publications Ltd, ISSN: 0255-5476, 10.4028/www.scientific.net/MSF.494.43, M23.

Ramović Rifat M., Lukić Petar, Šašić Rajko M., Ostojić Stanko M. (2008). Analytical model of a Si TFT with cylindrical source and drain, 2008 26th International Conference on Microelectronics, Vols 1 and 2, Proceedings.
IEEE, New York, ISSN: 2159-1660, 10.1109/ICMEL.2008.4559256.

Lukić Petar, Ramović Rifat M., Šašić Rajko M. (2006). A new threshold voltage analytical model of strained Si/SiGe MOSFET, 2006 25th International Conference on Microelectronics, MIEL 2006 - Proceedings.
IEEE Computer Society, 10.1109/ICMEL.2006.1651004.

Lukić Petar, Ramović Rifat M., Šašić Rajko M. (2005). Modeling and optimization of reliability of one redundant computer network, EUROCON 2005 - The International Conference on Computer as a Tool, II, 1762-1765.
IEEE Computer Society, 10.1109/eurcon.2005.1630317.